产品类型
PSL支持x射线数字照相系统,能够在高达60keV时,检测微米范围内的空隙、夹杂物、裂纹和晶粒结构。
球栅阵列(BGA)、微机电系统(MEMS)和倒装芯片器件能够组成成像可达*10倍的放大,能够实现分离干结点、桥接、短接、错位等的分辨率降低至几微米。
大面积样品生产过程中,采用移动手段,能够使拼接处的分辨率高达100mm*100mm。
这种设置能够很好地用于陶瓷、塑料以及复合材料的新型检查方法。
该系统包含一个具有远程控制功能和全自动控制调节分辨率和对比度的x射线桌面柜,具有很好的性价比,而且具有非常直观的交互界面,深受科研人员和工业领域客户的欢迎。