PSL提供x射线显微层析系统，在高达100keV条件下3D重建系统分辨率可低至亚微米。

该系统从不同角度位置记录一系列x射线照片，包括骨头、泡沫、石材、例如集成电路复合材料以及聚合物等高密度成分等。其最小的特征识别可降至0.4微米。

对于光学元件，每帧的总采集时间为几秒钟的范围；对于较重的Z元素需要10秒。有两种扫描模式可供选择：一种是连续旋转扫描，设定在几分钟内完成一个完整的数据采集；一种是点对点的旋转扫描，能够保证绝对的精度和定位。三维重建的即刻完成得益于多图形处理单元（GPU）的大规模并行计算。

该系统包含一个具有远程控制功能和全自动控制调节分辨率和对比度的x射线桌面柜，具有很好的性价比，而且具有非常直观的交互界面，深受科研人员和工业领域客户的欢迎。